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首頁商品介紹 AOI檢查設備 ARRAY AOI缺陷檢查

ARRAY AOI缺陷檢查

OLED MASK 檢查

銷售實績:富士康、立訊精密、晶東方(BOE)

業務痛點：

1. 演算法指標要求高（替代率>90%）

2. 各膜層Pattern差異大，演算法複雜度較高

3. 缺陷種類繁多，平均每個網站涵蓋20種以上

主要檢測目標：

1. Killer Code

2. Particle類

3. 孔不良等